常见问题
更多>>SA324晶振,3225M金属四脚晶体,CTS谐振器,超小型表面贴片型SMD晶振,最适合使用在汽车电子领域中,也是特别要求高可靠性的引擎控制用CPU的时钟部分.
低频晶振可从7.98MHz起对应,小型,超薄型具备强防焊裂性,石英晶振在极端严酷的环境条件下也能发挥稳定的起振特性,产品本身具有耐热,耐振,耐撞击等优良的耐环境特性,满足无铅焊接以及高温回流温度曲线要求,符合AEC-Q200标准.
CTS晶振规格参数 | 型号SA324 |
频率范围 | 12.0~120MHZ |
频率公差@25℃ |
±10ppm, ±15ppm, ±20 ppm, ±30 ppm, ±50 ppm |
频率稳定度公差 |
±15ppm, ±20 ppm, ±30 ppm, ±50 ppm, ±100 ppm |
工作温度范围 |
-40°C to +85°C -40℃to~125℃ |
等效串联电阻 | ±15 ppm, ±20 ppm, ±30 ppm, ±50 ppm, ±100 ppm |
负载电容 | 10pF, 12pF, 16pF, Series standard |
激励功率 | 10 μW typical, 100 μW maximum |
老化@ + 25°C | 3.0 pF typical, 5.0 pF maximum |
绝缘电阻(@直流100 v) | 500M Ohms minimum |
储存温度范围 | -40°C to +125°C |
回流条件下 | +260°C maximum, 10 Seconds maximum |
CTS是一家集晶体的研发、生产、销售为主的晶振厂家.产品主要面向为国内通信,卫星导航,GPS,车载多媒体,电脑主板,笔记本,电子数码选择应用领域,以及出口的海外客户需求.公司拥有业界领先的晶振自动测试系统,日本全自动生产检测电脑仪器设备,和瑞士ERC公司铷原子频标的工厂频率基准,频谱分析仪,网络分析仪,合成信号源等高端仪器设备.
产品的可靠性可以通俗的理解为:产品生产完成后,不会因常规的搬运,储存而使其性能受影响,不会因客户的焊接,清洗和封装等各种使用条件而影响性能.产品的可靠性可以通过各种可靠性试验来衡量,目前常见的可靠性试验有:
高温储存试验 125℃±10℃;1000H±24H
温度循环试验 T1 = -55℃±10℃ T2= 125℃±10℃;循环次数10次.(温度转换约30分钟)
温度冲击试验 T1 = -55℃±10℃ T2= 125℃±10℃;循环次数10次.(温度转换时间5秒)
恒温恒湿试验 TC 85±10℃ H 85% ;1000H±24H
可焊性(焊锡)试验 230±10℃;3 s
耐焊接试验 260±10℃;10 s
跌落试验 75 cm;3 次.
振动试验 频率10 Hz — 2000 Hz;振幅 1.5 mm;每方向 40 分钟.
老化率试验 TC 85±10℃;300 H
寿命试验(MTBF);85℃or125℃;1000H;利用公式及失效产品数计算出产品模拟寿命.
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