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- 压控温补晶振
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常见问题
更多>>可编程晶振,爱普生石英晶振,SG-8003CE振荡器,有多种电压供选择,比如有1.8V,2.5V,3.3V,3.8V,5V等,产品被广泛应用于,平板笔记本,GPS系统,光纤通道,千兆以太网,串行ATA,串行连接SCSI,PCI-Express的SDH / SONET发射基站等领域.符合RoHS/无铅.爱普生可编程石英晶振SG-8003CE,成本相对普通有源晶振,温补晶振,压控晶振,压控温补晶振相对较高些,贴片式石英晶体振荡器,低电压启动功率.
爱普生晶振参数 | SG-8003CE | |
频率范围 | f0 | 1.0MHZ~166.0MHZ |
电源电压 | VCC | 1.8 V,2.5 V,3.3V |
储存温度 | T_stg | -40°C to +85°C |
工作温度范围 | T_use | -20℃to +70°C / -40℃to +85°C |
频率公差 | f_tol |
B:±50×10-6, C:±100×10-6 L:±50 ×10-6, M:±100×10-6 |
电流消耗 | ICC | 15.0 mA Max. |
禁用当前 | I_dis | 8 mA Max. |
占空比 | SYM | 45 % to 55 % |
高输出电压 | VOH | 90 % VCC Min. |
低输出电压 | VOL | 10 % VCC Max. |
输出负载条件 | L_CMOS | 15 pF Max. |
静止启用 | VIH/VIL | 80% VCC Min./20% VCC Max. |
上升时间和下降时间 | tr/ tf | 5.0 ns Max. |
启动时间 | t_str | 2.5 ms Max. |
频率老化 | f_aging |
±3 ×10-6 / year Max. |
产品的可靠性可以通俗的理解为:产品生产完成后,不会因常规的搬运,储存而使其性能受影响,不会因客户的焊接,清洗和封装等各种使用条件而影响性能.产品的可靠性可以通过各种可靠性试验来衡量,目前常见的可靠性试验有:
高温储存试验 125℃±10℃;1000H±24H
温度循环试验 T1 = -55℃±10℃ T2= 125℃±10℃;循环次数10次.(温度转换约30分钟)
温度冲击试验 T1 = -55℃±10℃ T2= 125℃±10℃;循环次数10次.(温度转换时间5秒)
恒温恒湿试验 TC 85±10℃ H 85% ;1000H±24H
可焊性(焊锡)试验 230±10℃;3 s
耐焊接试验 260±10℃;10 s
跌落试验 75 cm;3 次.
振动试验 频率10 Hz — 2000 Hz;振幅 1.5 mm;每方向 40 分钟.
老化率试验 TC 85±10℃;300 H
寿命试验(MTBF);85℃or125℃;1000H;利用公式及失效产品数计算出产品模拟寿命.
爱普生株式会社爱普生拓优科梦,(EPSON — TOYOCOM)1942年成立时是精工集团的第三家手表制造公司,以石英手表起家的爱普生公司到后续的生产压电石英晶体,1996年2月在中国苏州投资建厂,在当时员工人数就达2000人,总投资4.05