晶振会在什么情况下没有信号输出
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请拆下晶振并使用专业测试机测试其频率和负载电容,看它们是否振动并符合您的规格.您也可以将其发送给您的供应商,让他们为您进行测试.
请使用示波器或频率计测量晶体两端输出的信号.如果没有信号输出,请按照步骤1-1至步骤1-4执行检查.如果晶体的输出端（Xout）有信号输出,而输入端（Xin）没有信号输出,请按照步骤1-5到步骤1-6检查晶体.
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微处理器的振荡电路一般来源于Colpitts电路,如下图所示:Cd和Cg为外部负载电容,已内置在芯片组中.（请参考芯片组的规格）
Rf 为反馈电阻,200KΩ~1MΩ.它通常内置在芯片组中.
Rd是470Ω~1KΩ的限位电阻.该电阻对于普通电路不是必需的,而仅适用于具有高电源的电路.

一个稳定的振荡电路需要一个负电阻,其值至少应为晶体电阻的五倍.可以写成|-R|>5Rr.
例如,要获得稳定的振荡电路,当晶振电阻值为40Ω时,IC的负电阻值必须在Ω200Ω以下.
如果石英晶振参数正常,但在振荡电路内工作不稳定,我们就得看看IC的电阻值是否太低, 无法驱动电路.如果是这种情况,我们有三种方法可以改善这种情况:

降低外部电容（Cd 和 Cg）的值,并采用负载电容（CL）较低的其他晶振.

采用电阻（Rr）较低的晶体.

使用不等值Cd和Cg的设计.我们可以增加Cd（Xout）的负载电容并减少Cg（Xin）的负载电容,以提高Xin的波形幅度输出,用于其后端电路.
除了上述1-5的方法外,还可以按照步骤1-4-4的三种方法进行.如果您的问题无法解决,请联系晶体或IC制造商的现场应用工程师以获得进一步的帮助.
“负电阻”是评价一个振荡电路好坏的标尺.在某些情况下,如老化、热变化、电压变化等,如果”Q”值较低,电路可能不会振荡.因此,按照以下说明测量负电阻(-R)非常重要:

( 1 )将电阻(R)与晶体串联
( 2 )将R的值从起点调整到振荡的停止点.
( 3 )测量振荡过程中的R值.
( 4 )你将能够获得负电阻的值,|R|=R+Rr,并且Rr=晶体电阻.
PS连接电路的杂散电容可能会影响测量值.
当Xout有信号输出而Xin没有输出时,表示后极Backend Circuit的功耗非常大.我们可以在电路的输出和它的后电极之间添加一个缓冲器来驱动后端电路.

如果出现以下任何一种情况,晶体不振动,负载电容不符合您的规格,或者当前频率与您的目标频率有很大差距,请将晶体发送给您的供应商进行质量分析.如果频率和负载电容符合您的规格,我们将需要进行等效电路测试.
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