有源进口Oscillator随时间推移延长使用寿命的计算变化结果
石英晶振的抗老化率是主要关键的一步.一般晶振的延长老化的测试结果时间为1900天的观察时间,老化测量用于几种类型的石英晶体振荡器包括AT和SC切割烤箱控制的晶体振荡器(OCXO)以及温度补偿晶体振荡器(TCXO)虽然每个OCXO都是在生产中老化,通常只收集数据满足老化率所需的一段时间.
TCXO晶振很少因此而老化确定真正老化所需的长测试时间性能,研究老化性能的结果长时间的大型振荡器组时间通常不可用,显示的许多测试结果都是振荡器是生产订单超出,单位不符合特定规格或展出老化测试测量过程中的异常行为.它必须注意的是,显示的数据量很大频率扰动不是常态,代表a只有百分之几的振荡器没有显示异常.

每个振荡器的数据都是通过平均最多20个样本1秒收集门间隔大约每2小时一次.自动化对所有石英振荡器进行测试测量不断通过软件控制,除非它们是要么加载到老化系统,要么从老化系统卸载每天.在此过程中,数据收集将停止大约3到5个小时.中断也可能是常规的结果在老化系统或电力故障.在这种情况下,振荡器可能会关闭几个小时并收集数据可能会停止长达几天.所有提供的数据都缩小了由于受限制而删除所有其他数据点图形软件.
时间尺度已经标准化最后一个数据点于2000年2月15日在x轴上表示第0天,标记为"天",因此,在此日期之前采取的所有数据点用来自的负天数表示标准化日期.这是为了便于定位事件对于多个单元的数据集是通用的,因此,将它们与单一行为隔离开来振荡器.已从结果中删除了杂散点显示允许观察感兴趣的数据.流浪数据点的出现主要是由于老化时的磨损系统测试夹具插座和RF开关过度使用,这导致错误的频率由于偶尔间歇性接触而导致的读数射频信号路径.
由于元件值的变化引起的频率漂移在其生命中可能直接影响振荡循环或维持的稳态功能电压调节,烤箱控制和电路信号输出级.老化程度与内部成分有关振荡回路或周围电路是取决于石英晶振的电抗斜率工作频率.为了更好地理解效果振荡回路内的元件值漂移老化表现,我们需要考虑简化的阻抗框图如图中所示.

尽管如此,收集的数据这些振荡器在很长一段时间内都会出现有趣的品质值得注意.一些事实上,振荡器故意留在老龄化系统专门研究衰老过程和还介绍了这些振荡器的数据,数据代表现实世界的表现捕捉日常和季节性的周期性变化变化以及由于动力而回撤的影响故障和预定的系统维护,它是重要的是要认识到真正的老化表现这些因素使石英晶体振荡器混淆.
老化是振荡器频率的变化随着时间的推移,在不断的环境和系统水平下条件.石英晶体振荡器的老化是由石英晶体本身或振荡器组件中的其余组件.石英晶体的老化是组合的结果几个因素.其中一些因素可能包括杂质的扩散和气体的释气石英晶体,其支架,玻璃或陶瓷基座和用于安装石英的粘合剂.它也可能包括从电极到金属的金属迁移石英表面.这些事件涉及到的交流石英晶体的质量导致其变化频率.其他因素也有助于衰老石英晶体包括水晶支架的应力消除和微观支架泄漏.虽然严重泄漏众所周知.持有人会导致持续下行频率,微观泄漏对长期的影响术语老化表现尚不清楚.

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